著書
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No. タイトル 著者 担当範囲 担当ページ 出版社 出版日 ISBN URL 概要
1 固体表面分析 Ⅱ
荒賀年美 他19名

総頁数584頁 24頁
講談社
1995/04


固体表面状態を観察、分析する種々の手法について、それぞれの手法の専門家が分筆したものをまとめたものである。 全584頁中、第9章「ラザフォード後方散乱法」(433~456頁)を担当 編者:大西孝治、堀池靖浩、吉原一紘 共著者:荒賀年美、安藤寿浩、石田英之、伊藤正時、工藤昭彦、酒井明、坂上弘之、佐藤洋一郎、鈴木茂、田中浩三、田中繁夫、堂免一成、内藤周武、野村淳子、服部健雄、堀池靖浩、本間芳和、森田清三、山本康博
2 表面と薄膜分析技術の基礎



海文堂
1992/06


L.C.Feldman and J.W.Mayer著の“Fundamental of Surface and Thin Film Analysis”の訳であり、イオンビームやX線を用いた表面分析技術の解説書である。 全353頁中、第1から5章および第11章を担当 共著者:栗山一男、山本康博
3 APPLICATION OF ION BEAMS IN MATERIALS SCIENCE



法政大学出版局
1988/05


法政大学イオンビーム工学研究所および法政大学工学部主催の第12回法政大学国際シンポジウム“Application of Ion Beams in Materials Science”のProceedings編集。 全531頁、共同研究につき本人担当部分抽出不可能 共著者:T.Sebe and Y.Yamamoto